загрузка...

Каталог гостов

Конденсаторы постоянной емкости на основе стекла

ГОСТ 24459-80 Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры
статус: действующий

ГОСТ 24460-80 Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры
статус: действующий

ГОСТ 24612-81 Машины листогибочные с поворотной гибочной балкой с программным управлением. Основные параметры и размеры
статус: срок действия истёк

ГОСТ 24613.0-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров
статус: действующий

ГОСТ 24613.1-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
статус: действующий

ГОСТ 24613.18-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
статус: действующий

ГОСТ 24613.19-77 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
статус: действующий

ГОСТ 24613.2-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
статус: действующий

ГОСТ 24613.3-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
статус: действующий

ГОСТ 24613.4-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
статус: действующий

ГОСТ 24613.5-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки
статус: действующий

ГОСТ 24613.6-81 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции
статус: действующий

ГОСТ 24613.7-83 Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления
статус: действующий

ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
статус: действующий

ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
статус: действующий

страница 0 из 1 следующая